關(guān)于C掃描，你了解多少？

C掃描來源于英文，意思是恒定的深度，是對某一深度的截面進行掃描，是二維平面內(nèi)移動并選取A掃描特定深度的點的信號成像，顯示的是水平截面的缺陷信息。

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超聲C掃描

超聲C掃描是一種用于材料科學(xué)領(lǐng)域的物理性能測試儀器，于2014年03月01日啟用。

超聲波C掃描是面掃描，或水平投影，是一種二維圖像，橫、縱坐標(biāo)都表示時間（或距離）。

超聲波C掃描表示被檢工件的投影面的狀況，在投影面上繪出缺陷的水平投影位置，但不能給出缺陷的埋藏深度。

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c掃描原理主要應(yīng)用范圍

· 晶元面處脫層　· 錫球、晶元、或填膠中之裂縫　· 晶元傾斜　· 各種可能之孔洞（晶元接合面、錫球、填膠…等）　· 覆晶構(gòu)裝之分析　德國KSI聲掃描顯微鏡C-SAM(SAT)世界先進的機器　WINSAM Vario III 聲掃描顯微鏡　1～500MHz　● 非破壞性材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)測試　● 快速的超聲波頻率設(shè)置　● 全新的操作軟件簡單易用　● 緊湊的模塊化設(shè)計　● 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)，材料測試，生命科學(xué)等領(lǐng)域　非破壞性失效分析：　視覺效果 定量分析 自動控制　－3D形貌再現(xiàn)　－同時觀察多個層面　－顯示樣品的機械性能（硬度，密度，壓力等）　－實時超聲波飛時圖表（A-Scan）　－縱向截面圖像（B-Scan）　－XY圖像（C-Scan, D-Scan, 自動掃描, 多層掃描）　－第二個監(jiān)視器便于圖像的觀察和操作 －失效統(tǒng)計　－柱狀圖顯示　－長度測量　－膜厚測量　－多方式圖像處理　－超聲波傳輸時間測量　－無損傷深度測量　－數(shù)字信號分析　－相位測量 －自動XYZ掃描　－自動存儲儀器參數(shù)　－運用分層運算方法進行自動失效鑒別　－自動濾波參數(shù)設(shè)置　－換能器自動聚焦　－高分辨率下自動進行高速掃描