|
公司基本資料信息
注意:發布人未在本站注冊,建議優先選擇VIP會員 |
顯微鏡是很多行業中對產品質量和性能檢測的一個重要儀器,它廣泛的應用于各個的科學研究,教學實踐,生產質量檢測等領域。一般的顯微測試是基于人工調節顯微鏡的對焦系統,反復的手工操作,直到調到被測對象的正焦位置,這樣一個過程花費時間較長,效率低,并且,人員必須在顯微鏡旁邊,不能遠程調結。隨著人們對顯微鏡的自動化、智能化要求的提高,自動對焦技術的顯得越來越重要了。尤其是有些場和需要人員離開。這就需要一種能夠遠程快速調焦的顯微鏡,有的產品用電動Z軸調焦,電動Z軸的缺點是成本高安裝復雜,速度慢。不能達到毫秒級的調焦,也不能實現復眼的效果,(即多焦點)。
4探頭超聲波掃描顯微鏡分析系統,四探頭系統,同時使用4只換能器- 掃描速度:2000 mm/s- 與其它品牌相比掃描30%- 掃描范圍:1000mm×700mm- 小掃描范圍:200μm×200μm- 帶寬:550MHz- 放大倍數:250倍- 新型FCT換能器。蘇州特斯特電子科技有限公司,主要從事各類測試、檢測儀器設備的代理銷售和技術服務,產品涵蓋電子元器件,電路板,線纜線束的測試與檢測。設備主要來自于歐美日等先進測試設備制造國家。
EMMI微光顯微鏡
微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是常用漏電流路徑分析手段。對于故障分析而言,微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是一種相當有用且效率極高的分析工具。主要偵測IC內部所放出光子。在IC元件中,EHP(Electron Hole Pairs)Recombination會放出光子(Photon)。如在P-N結加偏壓,此時N阱的電子很容易擴散到P阱,而P的空穴也容易擴散至N,然后與P端的空穴(或N端的電子)做EHP Recombination。在故障點定位、尋找近紅外波段發光點等方面,微光顯微鏡可分析P-N接面漏電;P-N接面崩潰;飽和區晶體管的熱電子;氧化層漏電生的光子激發;Latch up、Gate Oxide Defect、Junction Leakage、Hot Carriers Effect、ESD等問題.