7分鐘前 平頂山EDX8000BPLUS元素分析光譜儀廠家在線咨詢 英飛思科學(xué)儀器公司[英飛思科學(xué)66089b4]內(nèi)容：能量色散X螢光與波長(zhǎng)色散X螢光光譜分析技術(shù)特別研究與應(yīng)用了里層三個(gè)電子軌道即K，L，M上的活動(dòng)情況，其中K軌道為接近核子，每個(gè)電子軌道則對(duì)應(yīng)某元素一個(gè)個(gè)特定的能量層（伊諾斯合金分析儀中國(guó)服務(wù)商）。在XRF分析法中，從光發(fā)射管里出來的高能初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時(shí)，原子變成了不穩(wěn)定的離子。

蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司EDX9000A結(jié)合了新的樣品激發(fā)和信號(hào)檢測(cè)技術(shù)，使得它的分析性能可以與實(shí)驗(yàn)室分析結(jié)果相媲美。通過配備不同濾光片和光路準(zhǔn)直器，高功率X射線管，以及美國(guó)Amptek的SDD硅漂移檢測(cè)器，EDX9000A實(shí)現(xiàn)了優(yōu)化的硬件組合。選擇金屬合金分析儀時(shí)，客戶通常會(huì)重點(diǎn)關(guān)注測(cè)試準(zhǔn)確性，分析速度和設(shè)備耐用性，而EDX9000A是對(duì)上述三點(diǎn)指標(biāo)的體現(xiàn)。

不需要每天標(biāo)定儀器，開機(jī)即可檢測(cè)，大大提高生產(chǎn)效率，并降低了對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的依賴

?多重儀器硬件保護(hù)系統(tǒng)，并可通過軟件進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全

?特別設(shè)計(jì)的光路和真空系統(tǒng)提高了輕元素的測(cè)試靈敏度3-5倍(Na, Mg, Al, Si, P)

?友好的用戶界面，可定制的分析報(bào)告，可一鍵打印測(cè)試報(bào)告，包括分析結(jié)果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像

?八種光路準(zhǔn)直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品大小自動(dòng)切換，亦可測(cè)試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差

?高清內(nèi)置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測(cè)的樣品部位