臨朐浩偉電子設計的靜電噴粉槍噴霧控制器可分為三個部分：電源，控制板和操作面板。電源使用開關電源將220V工頻電源轉換為+ 24V + _ 5V電源，用于微控制器的微控制器系統和輸出電路。控制板是控制器的核心，主要負責控制和采集輸出。操作面板是完成控制器功能的前提，是人機交互的界面。空氣源氣由空氣壓縮機供給，并對氣壓傳感電路和氣壓調節模塊進行了測試。靜電噴粉槍操作面板的設計包括按鍵輸入和LED數碼管顯示，符合靜電噴涂控制柜的要求和控制器及外部控制系統的遠程監控。

浩偉電子提出的靜電噴粉槍通信，也支持現場參數配置。顯示功能允許單獨的繪畫作業。控制板是底部控制的核心。 MCU模塊通過計算控制每個模塊。每個模塊的控制電路控制輸出結構，并通過ADC采樣和測量檢測每個輸出參數。主控MCU電路通過I / O口連接觸發信號處理電路，接收外部觸發信號，并結合靜電噴霧控制器的工作狀態輸出觸發使能信號;輸出電壓，電流和電輸出狀態通過槍接口信號處理電路獲得。根據噴涂經驗，在電壓模式下，噴涂的靜態電壓設定為7_5KV，流量為400KPa，霧化壓力為1_SOKPao。反饋信號結合靜電噴涂控制器的工作模式和工作狀態輸出控制電壓，調節輸出靜電噴粉槍靜電電壓或靜電電流;通過氣壓信號處理電路得到流量氣壓和霧化氣壓反饋信號，結合靜電噴霧控制器的工作方式和工作狀態輸出步進電機控制信號調節流量氣壓和霧化空氣壓力輸出。

靜電噴粉槍操控器的采樣周期設為20ms，每周期采樣64次核算均值保存，作為一次ADC采樣的采樣值，定時器的觸發周期為(20000us/64)=s。為了保證其他模塊可以運用完整的ADC采樣數據，防止數據在運用前被覆蓋，目標存儲區選用64*2的存儲緩沖區。使用DMA的DMA_ IT_ HT和DMA IT TC中斷分別對前后兩部分采樣數據進行操作。噴槍與工件的距離大小能是電場強度發生改變，因而噴涂距離將會直接影響粉料涂層的厚度和沉積功率。

DAC輸出模塊程序設計

靜電噴粉槍操控器的靜電電壓輸出是MCU通過DAc數模轉化輸出電壓再由線性放大電路進行放大輸出。操控器選用的數模轉化參閱電壓是3V，而12位的DAC轉化數據范圍為0409-5，不便于直觀表明DAC輸出電壓值。所以界說函數DAC_Set Vol(uintl6_ t vol),參數vol取值范圍為03000，表明輸出電壓范圍為0-3V。在這個函數中先將03000的數值按份額轉化為04096的DAC數模轉化參數，再調用庫函數輸出電壓。通過以太網交換機和主PLC的通信邏輯上構成主設備和從設備之間的關系，接收主PLC控制單元發送的觸發信號，并具有觸發輸出控制電路，可以觸發多個控制器。

操控算法模塊程序設計

靜電噴粉槍操控器實現了輸出靜電電壓、靜電電流、流速氣壓和霧化氣壓的自動操控，靜電電壓、靜電電流由MCU的DAc輸出操控，通過靜電電壓、靜電電流操控算法計算得到DAC的輸出量。流速氣壓、霧化氣壓由步進電機調理，通過流速氣壓、霧化氣壓操控算法核算得到步進電機的滾動步數和滾動方向。控制板選用STMicroelectronics的STM32F20_5VCT6作為主MCU}49}}STM32系列是專為高性能，低成本，低功耗嵌入式應用而設計的微處理器，并與ARMCortex-M3內核集成。所以，靜電噴粉槍操控算法模塊包括四個部分，靜電電壓操控、靜電電流操控、流速氣壓操控、霧化氣壓操控，都是選用數字PI操控算法.

靜電噴粉槍顯示：在自檢狀態下，各數字管的參數顯示子程序依次調用鍵顯示模塊顯示參數1s，用于檢查硬件是否處于良好狀態。在停止狀態下顯示測量參數。運行狀態顯示測量參數。按“流化氣壓”和“霧化氣壓”按鈕可以切換這兩組數碼管的顯示內容。瀏覽配置參數以瀏覽選擇狀態顯示。靜電噴粉槍接收的配置參數被存儲為用于瀏覽的臨時參數。確認選擇后，按.”按鈕將它們保存為配置參數。預設狀態顯示臨時參數。在修改參數時，根據相應的鍵選擇閃爍的數據位。另一方面庫侖力又與噴槍和工件之間的距離h的平方成反比，所以靜電噴粉槍與工件之間的距離越近，庫侖力越大，吸附的效果越好。確認選擇之后，按“確認”按鈕保存配置參數。當不修改時，再次按“預設”來取消修改。

由于靜電噴粉槍按鍵顯示驅動芯片BC7277的通信速率低，刷新每組參數需要很多時間，所以每個周期只刷新一個參數，LED指示燈顯示總共九個周期刷新一組參數，所以主程序有增量。運行速度提高了9倍。為了完成靜電噴粉槍控制任務，將不同類型的數據劃分為發送優先級。數據被打包在每個模塊中。在發送時應考慮優先級和發送間隔，設計數據封裝。程序和發送程序確保正常通信。數據打包器的功能不僅是對數據進行封裝，而且對數據類型的優先級標志uSendDataFlag的相應位進行定位，并計算數據幀有效部分的CRC校驗碼。uSendDataFlag的對應優先級高于時間觸發的廣播分組。本文采用16位CRC校驗碼對有效數據位進行校驗。