靜電放電抗擾度試驗

標準依據(jù)

IEC 61000 - 4 - 2

EN 61000 - 4 - 2

GB/T 17626.2

試驗?zāi)康?/p>

模擬操作人員或物體在接觸設(shè)備時放電及人或物體對鄰近物體的放電，以考察被試設(shè)備抵抗靜電放電干擾能力。前者是通過導(dǎo)體直接耦合，屬于直接放電影響。 后者是通過空間輻射耦合，屬于間接放電影響。

試驗設(shè)備

靜電脈沖發(fā)生器

試驗等級（嚴酷度等級）

試驗原理

靜電放電電流的典型波形

靜電放電電流的典型波形參數(shù)

立式設(shè)備實驗室配置圖

試驗環(huán)境條件

環(huán)境溫度：15 ~ 35 ℃

相對濕度：30 ~ 60 %

大氣壓力：86~106 kPa

試驗的實施

接觸放電使用尖形放電電極，空氣放電使用圓形放電電極；

優(yōu)先采用接觸放電；

直接放電試驗，放電電極直接對被試設(shè)備進行放電試驗。試驗對象包括用戶在使用中可能觸及到的任何地方以及在帶電維護和校正時可能觸及的地方。如：金屬簧i片、機殼、機框、按 鍵、螺絲、指示燈、開關(guān)等；

間接放電試驗可對水平耦合板和垂直耦合板進行放電；

試驗速率 1 次/s，每個放電點至少在正負極性各放電10 次。

試驗結(jié)果判定

a. 在試驗過程中，設(shè)備的工作完全正常 設(shè)備的工作完全正常。

b. 在試驗中，設(shè)備受干擾影響產(chǎn)生了暫時性的功能降低，但撤消干擾后，設(shè)備的功能可

以自動恢復(fù)正常。

c. 在試驗中，設(shè)備受干擾影響產(chǎn)生了暫時性的功能降低，但干擾撤消后，設(shè)備的功能需

要人工復(fù)位后方能恢復(fù)。

d. 在試驗中，受干擾的設(shè)備產(chǎn)生了不可逆轉(zhuǎn)的損傷，包括元器件的損傷 、軟件或數(shù)據(jù)

丟失等。

對于情形a、b，判為合格。

對于情形c、d，判為不合格。

射頻電磁場輻射抗擾性試驗

標準依據(jù)

IEC61000 - 4 - 3

EN61000-4-3

GB/T17626.3

試驗?zāi)康?/p>

評定電子通訊設(shè)備或系統(tǒng)受到電磁輻射騷擾時的性能。

試驗設(shè)備

全電波暗室

功率放大器

射頻信號發(fā)生器

抗擾度天線

場強探頭

配套計算機及軟件

試驗等級（嚴酷度等級）

干擾電場強度的波形 (1kHz正弦波80%調(diào)幅 )

試驗的實施

用1kHz的正弦波對信號進行80％的幅度調(diào)制后， 在80～1000MHz頻率范圍內(nèi)進行掃頻測量，掃描步長為前一頻率的1 ％，這一部分都通過計算機及軟件控制實現(xiàn)；

每一頻點上掃描停留時間不應(yīng)短于受試設(shè)備操作和反應(yīng)所需的時間，一般設(shè)為1-3秒鐘，如果對產(chǎn)品有特別要求，可以延長停留時間；

受試設(shè)備應(yīng)在發(fā)射天線的水平和垂直極化下進行試驗 。

試驗結(jié)果判定

對于情形a，判為合格。

對于情 形b、c、d，判為不合格。

射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度

標準依據(jù)

IEC61000 - 4 - 6

EN61000-4-6

GB/T17626.6

試驗?zāi)康?/p>

評估通訊和電子設(shè)備的供電電源端口、信號和控制端口在受到射頻電磁場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾信號干擾時的性能。

試驗設(shè)備

騷擾信號發(fā)生器

耦合去耦網(wǎng)絡(luò)

衰減器

電流鉗

電磁鉗

試驗等級（嚴酷度等級）

干擾電壓波形 (1kH z正弦波80%調(diào)幅 )

試驗連接圖

試驗結(jié)果判定

對于情形a，判為合格。

對于情 形b、c、d，判為不合格。