電子器件損壞特性概述

一、電阻損壞特性

電阻器是數量的電子設備，但并非損壞率高的元件。電阻性損傷以開路為常見，阻值變大是罕見的，阻值變小也很少見。常用的有碳膜電阻、金屬膜電阻、線繞電阻、保險電阻等。

頭兩種電阻應用，破壞特性如下：一是低阻值(100Ω以下)和高阻值(100 kΩ以上)損壞率較高，中間阻值(如幾百歐至幾十千歐)損壞；二是低阻值電阻損壞時往往是燒焦發黑，很容易發現，而高阻值電阻損壞時很容易發現。

線繞電阻通常用于大電流限制，但阻值不大。圓筒形線繞電阻燒壞后有些會發黑或表面爆皮、裂紋，有些無痕。水阻是線繞電阻的一種，燒壞后可能會斷裂，否則沒有任何可見痕跡。保險絲電阻燒壞的時候有些表面會炸掉一塊皮，有些也沒有任何痕跡，但不會變黑。基于上述特點，在檢測電阻時可著重于快速找到損壞電阻。

二、電解電容損壞特點

電容器在電氣設備中的用量很大，故障率很高。電解質損壞主要表現為：

一是容量完全損失或容量減少；

二為輕度或嚴重漏電；

三是容量損失或容量變小兼有漏電。

三、二極管，三極管等半導體器件損壞特性

三極管的損壞一般為 PN結擊穿或開路，其中以擊穿短路為主。另外，還存在兩種損壞表現：

，熱穩定性變差，表現為通電時正常，一段時間后發生軟擊穿；

二是 PN結的性質變差，用萬用表 R×1 k測得，所有 PN結都正常，但是上機后，不能正常工作，如果用 R×10或 R×1低量程檔測， PN結正向阻值比正常值大。

四、集成電路損害特征

IC內部結構復雜，有很多功能，其中任何一部分損壞不能正常工作。IC有兩種損壞：完全損壞，熱穩定性差。當一個電路完全損壞時，可以拆開它，和一般同型號的集成電路比較，測其每個針對地的正反兩個電阻，總能發現一個或幾個管腳阻值異常。對于熱穩定性差的，可以在設備工作時，用無水酒精冷卻集成電路，如果故障出現延遲或不再發生故障，就可以判定。一般只能更換新集成電路來排除。

電子器件檢測行業市場前景預測

當前，電子元器件檢測行業已經形成了一個比較成熟、的工作體系，為我國科技領域提供有效的技術支持。據統計，今年電子電器類檢驗檢測機構年度收入約180億元，同比增長31.20%，遠高于傳統行業增速。隨著電子產品生命周期的縮短，檢測頻率和產品種類的雙重提升，這一領域的市場規模有望持續保持較高的增長速度。

在我國高新技術制造業中，電子元器件檢測行業越來越深入，集成電路檢測已經成為電子元器件檢測的重要組成部分，集成電路檢測這個細分行業屬于 IC設計、制造相關行業與電子元器件檢測行業的交叉領域。經過檢測的 IC產品已在各領域得到大規模應用，并已廣泛應用于我國航天、電子、等諸多下游領域。IC設計企業作為電子元器件檢測的直接客戶， IC設計市場的不斷擴大，集成電路市場的擴大，為電子元器件檢測行業提供了比較廣闊的商機。

數字集成的家庭線路

邏輯族是一組電子邏輯門，每個系列都有其的分立邏輯門、獨立組件、電源、特性、優點和缺點。特定系列內的電壓范圍可以證明是高電平或低電平。一些家庭包括以下內容。

DL 或二極管邏輯

二極管和寄存器實現邏輯。除了邏輯開關之外，二極管還有助于執行“AND”和“OR”運算。確保二極管具有用于傳導的正向偏壓始終變得至關重要。雖然有益，但除了無法在許多狀態下運行之外，它無法執行“NOT”功能。它還傾向于快速降低信號。

RTL 或電阻-晶體管邏輯

在這種情況下，晶體管和寄存器可以很好地實現邏輯。晶體管將反相信號與放大輸入相結合。RTL 設計簡單且經濟，但速度較慢。此外，RTL 需要大量電流，它們可用作數字電路和線性電路之間的接口。

DTL 或二極管晶體管邏輯

二極管和寄存器用于實現邏輯。DTL 比 RTL 和 DL 有優勢。它的二極管除了具有晶體管和放大輸出信號的能力外，還可以執行“或”和“與”操作。DTL 中存在的邏輯反轉允許信號恢復到完整的邏輯電平，主要是在邏輯門的輸出端加入晶體管?！盎颉惫δ苡啥O管而不是電阻器執行，它消除了輸入信號之間的相互作用。

TTL 或晶體管-晶體管邏輯

除了雙極晶體管之外，TTL 還實現了集成電路中的邏輯。它以標準、高速、低功耗或肖特基 TTL 的形式出現。然而，家庭代表了電子行業人們的流行選擇。

ECL 或發射極耦合邏輯

該邏輯是非結構化的，具有高速和低傳播延遲的優點。

CMOS 或互補金屬氧化物半導體邏輯

由于其低功耗和高扇出，它是大多數人的流行邏輯選項。因此，它代表了邏輯系列中可靠的。