廈門(mén)市領(lǐng)卓電子科技有限公司主營(yíng)產(chǎn)品：一鍵閃測(cè)儀、3D測(cè)量?jī)x、高速秒測(cè)儀、高清數(shù)字顯微鏡、工具顯微鏡、全自動(dòng)CNC測(cè)量?jī)x、金相顯微鏡、測(cè)量顯微鏡、三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x等

1、多點(diǎn)測(cè)量點(diǎn)、線、圓、孤、橢圓、矩形，提高測(cè)量精度；2、組合測(cè)量、中心點(diǎn)構(gòu)造、交點(diǎn)構(gòu)造，線構(gòu)造、圓構(gòu)造、角度構(gòu)造；3、坐標(biāo)平移和坐標(biāo)擺正，提高測(cè)量效率；4、巨集指令，同一種工件批量測(cè)量更加方便快捷，提高測(cè)量效率；

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大允許探測(cè)誤差(MPEP)：25點(diǎn)測(cè)量精密標(biāo)準(zhǔn)球，探測(cè)點(diǎn)分布均勻。大允許探測(cè)誤差MPEP值為所有測(cè)量半徑的大值。ISO 10360-3 (2000) “配置轉(zhuǎn)臺(tái)軸線為第四軸的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)” ：對(duì)于配備了轉(zhuǎn)臺(tái)的測(cè)量機(jī)來(lái)說(shuō)，測(cè)量機(jī)的測(cè)量誤差在這部分進(jìn)行了定義。主要包含三個(gè)指標(biāo)：徑向四軸誤差(FR)、切向四軸誤差(FT)、軸向四軸誤差(FA)。

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ISO 10360-4 (2003) “掃描測(cè)量型坐標(biāo)測(cè)量機(jī)” ：這個(gè)部分適用于具有連續(xù)掃描功能的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。它描述了在掃描模式下的測(cè)量誤差。大多數(shù)測(cè)量機(jī)制造商定義了"在THP情況下的空間掃描探測(cè)誤差"。

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組合測(cè)量當(dāng)某項(xiàng)測(cè)量結(jié)果需要用多個(gè)未知參數(shù)表達(dá)時(shí)，可通過(guò)改變測(cè)量條件進(jìn)行多次測(cè)量，根據(jù)函數(shù)關(guān)系列出方程組求解，從而得到未知量的測(cè)量，稱為組合測(cè)量。按測(cè)量方式分類