超聲相控陣掃查方式

用相控陣探頭對焊縫進行檢測時，無需像普通單探頭那樣在焊縫兩側頻繁地來回前后左右移動，而相控陣探頭沿著焊縫長度方向平行于焊縫進行直線掃查，對焊接接頭進行全體積檢測。該掃查方式可借助于裝有陣列探頭的機械掃查器沿著準確定位的軌道滑動完成，也采用手動方式完成，可實現快速檢測，檢測效率非常高。

超聲相控陣的角度補償

傳統工業相控陣定量方法不具有角度、聲程、晶片增益修正技術，多晶片探頭通過楔塊入射到工件內部時存在入射點漂移現象和能量分布變化。采用單一入射點校準方式與常規距離-波幅曲線修正，造成的扇形掃查區域中能量分布不均勻及測量誤差等問題未能有效解決，如圖7 所示。而ISONIC-UPA 相控陣設備具有角度補償功能，能有效地解決此類問題。

所謂角度補償就是針對不同的聚焦法則，輸入扇形掃查所需的角度范圍及入射角度的增量后，晶片可以分別進行角度增益調整，也就是晶片角度增益修正。

有了角度增益補償設置功能，可以取代傳統的通過設置DAC曲線的方法來補償增益變化。在ASME Case2557 標準中明確指出進行扇形掃描時要進行角度增益補償。角度增益補償曲線如圖8所示，經過角度補償后得到的等量化數據。

相控陣探頭參數影響

相控陣超聲陣列探頭的性能對檢測分辨率的影響很大，如何設計探頭參數是極為關鍵的技術之一。要想獲得化的設計效果需要研究相控陣陣列探頭對聲束指向性、聚焦效果等特性的影響。

影響聲束特性的探頭參數主要包括：探頭陣元數（N）、陣元間距（d）和陣元寬度（a）。這里列舉一個通過實驗來分析相控陣探頭參數對聚焦聲場的影響，并計算確定合適的陣列參數，以獲得較好的聲束特性，從而使超聲檢測的分辨力提高。