遠場測試技術雖然早成熟，但是由于其對大測試場地和電磁環境的特殊要求，測試非常不方便，人們一方面用緊縮場產生平面波來模擬無線長度的場地，另一方面則是用近場測試代替遠場測試。

近場測量的原理是在一個面上采集待測天線近場數據，然后通過近遠場變換算法，得到待測天線遠場輻射特性。根據取樣面的形式,可分為平面掃描、極平面掃描、柱面掃描和球面掃描技術，平面近場測量使用為普遍。近場測量的原始數據需要包含幅度相位信息，儀器設備主要是矢量網絡分析儀，或測量接收機、信號源等組成。

將待測天線作為發射端，而探頭作為接收端（注：可以根據具體情況進行收發轉換）。在發射端，由VNA1000A產生信號（如需要可增加功率放大器，將測試頻段的輸出功率放大到所需的電平）通過定向耦合器耦合部分功率作為參考信號，輸入至網絡分析儀，在高頻段（如：X波段以上）為了減少路徑損耗和路徑相位的變化，參考信號通過混頻變化為較低的頻率（中頻）輸入至網絡分析儀。網絡分析儀的接收通道可以自由設定接收機的頻率至中頻。

利用二端口或四端口時，PNA-X與傳統VNA結構相比有四大改進：

* 兩個信號源：第二個內部信號源與個信號源的頻率和功率電平設置是相互獨立的。第二個信號源可用于非線性放大器測試如互調失真（IMD），或用作測試混頻器和變頻器的快速本地振蕩器（LO）。

* 寬帶信號合路器：內部信號合路器可以在儀器的相關測試端口耦合器之前將兩個源合并在一起。這便簡化了需要兩個信號源的放大器測試設置。

* 信號切換和接入點：輔助開關和射頻接入點能實現靈活的信號路徑選擇，并增加外部信號調理得硬件（如推動放大器）或外部測試設備（如數字信號發生器或矢量信號分析儀）。

基于VNA的測試系統為測量無線通信和航空/系統中所使用的射頻和微波元件提供了動力。與傳統VNA相比，Agilent PNA-X微波網絡分析儀的先進體系結構具有更大的靈活性，使工程師們可以通過一次連接便能測量各種各樣的元件。PNA-X內主要的增加項是第二個信號源和內部寬帶信號合路器，從而簡化了放大器、混頻器和變頻器的測量。除S參數、壓縮和諧波的傳統單信號源測量之外，兩個信號源還可用于IMD、相位隨驅動的變化、熱態S參數和真實激勵模式的測試。PNA-X端口上信號源的高功率輸出、低諧波和寬功率掃描范圍的屬性完全適應當前器件的測試要求。