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公司基本資料信息
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AOI全自動光學(xué)檢測儀器的基本概念是運(yùn)用影像學(xué)來比看待測物與規(guī)范影象是不是經(jīng)歷大的差別來分辨待測物有無符合規(guī)定,因此AOI的優(yōu)劣大部分也在于其對影象的分辨率、顯像工作能力與影象分析技術(shù)性。初期情況下AOI全自動光學(xué)檢測儀器大多數(shù)被用來檢驗IC(積體電路)封裝后的表層包裝印刷是不是有缺陷,伴隨著技術(shù)性的演變,如今手機(jī)背光源檢測設(shè)備供應(yīng)商則被用來用在SMT組裝生產(chǎn)線上檢驗電路板上的零件焊錫絲拼裝后的質(zhì)量情況,或者查驗助焊膏包裝印刷后有無符合規(guī)定。
手機(jī)背光源檢測設(shè)備供應(yīng)商錯判的界定及存有原困、檢驗錯判的界定及存有原困、檢驗錯判的界定及存有原困錯判的三種了解及造成緣故能夠 分成以下幾個方面:1、元器件及點焊原本有產(chǎn)生欠佳的趨向,但處在允收范疇。如元器件原本發(fā)生了偏位,但在允收范疇內(nèi);該類錯判主要是因為預(yù)設(shè)值設(shè)置過嚴(yán)導(dǎo)致的,也可能是其自身處于欠佳與優(yōu)品規(guī)范中間,AOI與MV(人力目檢)確定導(dǎo)致的誤差,該類錯判是能夠 根據(jù)調(diào)節(jié)及與MV融洽規(guī)范來減少。2、元器件及點焊無不良傾向,但因為DFM設(shè)計方案時未考慮到AOI的可測性,而導(dǎo)致AOI判斷良是否有一定的難度系數(shù),為確保驗出實際效果,將引進(jìn)一些錯判。如焊層設(shè)計方案的太窄或過短,手機(jī)背光源檢測設(shè)備供應(yīng)商開展檢驗時較難開展很的判斷,此類情況所導(dǎo)致的錯判較難清除,除非是改善DFM或舍棄該類元器件的點焊欠佳檢驗。
光源選型基本要素:對比度:對比度對機(jī)器手機(jī)背光源檢測設(shè)備供應(yīng)商來說非常重要。機(jī)器視覺應(yīng)用的照明的的任務(wù)就是使需要被觀察的特征與需要被忽略的圖像特征之間產(chǎn)生對比度,從而易于特征的區(qū)分。對比度定義為在特征與其周圍的區(qū)域之間有足夠的灰度量區(qū)別。好的照明應(yīng)該能夠保證需要檢測的特征突出于其他背景。彤光電子擁有一批長期致力于加工手機(jī)背光源檢測設(shè)備供應(yīng)商的專門人員,的生產(chǎn)能力及務(wù)實的現(xiàn)代企業(yè)管理理念是公司發(fā)展堅強(qiáng)后盾,我們專門進(jìn)行手機(jī)背光源檢測設(shè)備供應(yīng)商,質(zhì)量方面的問題您大可以放心。