光纖光譜儀發(fā)射光譜測量

發(fā)射光譜測量可以用不同的實驗布局和波長范圍來實現(xiàn)，還要用到余弦校正器或積分球。發(fā)射光譜測量可以在紫外/可見和可見/近紅外波長范圍內(nèi)測量。

對于發(fā)射光譜的測量，光譜儀可以配置成波長范圍從200-400nm或350-1100nm，或組合起來實現(xiàn)紫外/可見200-1100nm，并可以在美國海洋光學公司的定標實驗室里進行輻射定標。定標后的實驗布局不能改變，如光纖和勻光器都不能更改。

為了使實驗布局更靈活，用可見/近紅外定標光源（LS-1-CAL）或紫外/可見/近紅外定標光源（DH2000-CAL）可以在用戶現(xiàn)場進行定標。功能強大的廣州標旗軟件可以完成定標并載入輻射定標數(shù)據(jù)。

拉曼光纖光譜儀報價

拉曼光纖光譜儀是一種利用拉曼散射效應進行光譜分析的設(shè)備。其工作原理是利用激光照射樣品，通過測量樣品對激光的散射光譜來獲取樣品的化學成分和結(jié)構(gòu)信息。拉曼光纖光譜儀具有靈敏度高、操作簡便、無需樣品預處理等優(yōu)點，被廣泛應用于生物、化學、材料、環(huán)境等領(lǐng)域。在市場方面，拉曼光纖光譜儀的價格因品牌、型號、性能等因素而異。一般來說，價格在幾萬元到幾十萬元之間。具體價格需要根據(jù)用戶的需求和預算來確定。在購買時，用戶需要考慮設(shè)備的性能、穩(wěn)定性、售后服務等因素，以確保購買到的設(shè)備。

光纖光譜儀薄膜厚度測量

光學的膜厚測量系統(tǒng)基于白光干涉測量原理，可以測量的膜層厚度10nm-50μm，分辨率為1nm。薄膜測量在半導體晶片生長過程中經(jīng)常被用到，因為等離子體刻蝕和淀積過程需要監(jiān)控；其它應用如在金屬和玻璃材料基底上鍍透明光學膜層也需要測量膜層厚度。配套的廣州標旗應用軟件包括豐富的各種常用材料和膜層的n值和k值，可以實現(xiàn)膜層厚度的在線監(jiān)測，并可以輸出到Excel文件進行過程控制。