光纖光譜儀發(fā)射光譜測量

發(fā)射光譜測量可以用不同的實驗布局和波長范圍來實現(xiàn)，還要用到余弦校正器或積分球。發(fā)射光譜測量可以在紫外/可見和可見/近紅外波長范圍內(nèi)測量。

對于發(fā)射光譜的測量，光譜儀可以配置成波長范圍從200-400nm或350-1100nm，或組合起來實現(xiàn)紫外/可見200-1100nm，并可以在美國海洋光學(xué)公司的定標(biāo)實驗室里進行輻射定標(biāo)。定標(biāo)后的實驗布局不能改變，如光纖和勻光器都不能更改。

為了使實驗布局更靈活，用可見/近紅外定標(biāo)光源（LS-1-CAL）或紫外/可見/近紅外定標(biāo)光源（DH2000-CAL）可以在用戶現(xiàn)場進行定標(biāo)。功能強大的廣州標(biāo)旗軟件可以完成定標(biāo)并載入輻射定標(biāo)數(shù)據(jù)。

拉曼光纖光譜儀報價

拉曼光纖光譜儀是一種利用拉曼散射效應(yīng)進行光譜分析的設(shè)備。其工作原理是利用激光照射樣品，通過測量樣品對激光的散射光譜來獲取樣品的化學(xué)成分和結(jié)構(gòu)信息。拉曼光纖光譜儀具有靈敏度高、操作簡便、無需樣品預(yù)處理等優(yōu)點，被廣泛應(yīng)用于生物、化學(xué)、材料、環(huán)境等領(lǐng)域。在市場方面，拉曼光纖光譜儀的價格因品牌、型號、性能等因素而異。一般來說，價格在幾萬元到幾十萬元之間。具體價格需要根據(jù)用戶的需求和預(yù)算來確定。在購買時，用戶需要考慮設(shè)備的性能、穩(wěn)定性、售后服務(wù)等因素，以確保購買到的設(shè)備。

光纖光譜儀薄膜厚度測量

光學(xué)的膜厚測量系統(tǒng)基于白光干涉測量原理，可以測量的膜層厚度10nm-50μm，分辨率為1nm。薄膜測量在半導(dǎo)體晶片生長過程中經(jīng)常被用到，因為等離子體刻蝕和淀積過程需要監(jiān)控；其它應(yīng)用如在金屬和玻璃材料基底上鍍透明光學(xué)膜層也需要測量膜層厚度。配套的廣州標(biāo)旗應(yīng)用軟件包括豐富的各種常用材料和膜層的n值和k值，可以實現(xiàn)膜層厚度的在線監(jiān)測，并可以輸出到Excel文件進行過程控制。