超聲相控陣的二次波顯示

傳統相控陣扇形掃查采用單純的聲程顯示，不能顯示缺陷的真實位置。這種成像模式將處在二次波位置上的缺陷轉換成一次波位置進行成像顯示，給分辨缺陷的具體位置增加難度，不能直觀給出缺陷真實位置。對于檢測角焊縫、T 形焊縫、K形焊縫及Y 形焊縫無法顯示真實成像結果，使該成像模式的應用受到限制，僅能用于檢測對接接頭。

而ISONIC-UPA 采用二次波檢測成像顯示模式，成像結果與真實幾何結構一致。這種成像模式能直觀顯示缺陷的位置及被檢工件焊縫的真實結構，這是聲程顯示成像模式無法比擬的。

相控陣超聲檢測

相控陣檢測可以同時擁有B掃、D掃、S掃和C掃描，可以通過建模，建立一個三維立體圖形，缺陷顯示非常直觀，哪怕不懂NDT的人都能看明白，而常規超聲波只能通過波形來分辨缺陷。

超聲相控陣可以檢測復雜工件，比如可以檢測渦輪葉片的葉根，常規超聲波檢測因為探頭聲束角度單一，存在很大的盲區，造成漏檢。而相控陣可以快速，直觀的檢測。

相控陣探頭參數影響

相控陣超聲陣列探頭的性能對檢測分辨率的影響很大，如何設計探頭參數是極為關鍵的技術之一。要想獲得化的設計效果需要研究相控陣陣列探頭對聲束指向性、聚焦效果等特性的影響。

影響聲束特性的探頭參數主要包括：探頭陣元數（N）、陣元間距（d）和陣元寬度（a）。這里列舉一個通過實驗來分析相控陣探頭參數對聚焦聲場的影響，并計算確定合適的陣列參數，以獲得較好的聲束特性，從而使超聲檢測的分辨力提高。