對(duì)比試樣校準(zhǔn)測(cè)量前的準(zhǔn)備

1. 對(duì)比試樣的人工缺陷應(yīng)使用酒精或C?H?O進(jìn)行清洗，用濾紙擦干，保持表面清潔，無銹蝕、金屬屑、毛刺、污染物等影響測(cè)量的缺陷。

2. 將對(duì)比試樣人工缺陷平行放置在載物臺(tái)上(必要時(shí)使用合適的工裝予以固定)，調(diào)整試樣，使人工槽長度或?qū)挾确较蚺c顯微測(cè)量設(shè)備的X或Y軸平行。

3. 顯微鏡在合適的明場(chǎng)條件下，先用低放大倍數(shù)（10×或20×）找到人工缺陷位置，再換至高放大倍數(shù)對(duì)試樣聚焦，調(diào)整載物臺(tái)及試樣，使人工缺陷處于視場(chǎng)中央。 調(diào)整測(cè)量設(shè)備，使測(cè)量面聚焦清晰，選擇測(cè)量點(diǎn)位。

對(duì)比試樣校準(zhǔn)介紹

用來在線測(cè) 量軋制后的板帶材厚度，并以電訊號(hào)的形式輸出。該電訊號(hào)輸給顯示器和自動(dòng)厚度控制系統(tǒng)，以實(shí)現(xiàn)對(duì)板帶厚度的自動(dòng)厚度控制（AGC）。 目前常見的測(cè)厚儀有γ射線、β射 線、x射線及同位素射線等四種，其安放位置均在板帶軋機(jī)的出口或入 口側(cè)。設(shè)計(jì)、安裝測(cè)厚儀時(shí)要在可能的條件下盡量靠近工作輥，目的是降低板厚的滯后調(diào)整時(shí)間。

對(duì)比試樣校準(zhǔn)分類

1.超聲波-在各種介質(zhì)中的聲速是不同的，但在同一介質(zhì)中聲速是一常數(shù)。超聲波在介質(zhì)中傳播遇到第二種介質(zhì)時(shí)會(huì)被反射，測(cè)量超聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時(shí)間，即可將這間隔時(shí)間換算成厚度。在電力工業(yè)中應(yīng)用較廣的就是這類測(cè)厚儀。常用于測(cè)定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核工件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測(cè)厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導(dǎo)體收音機(jī)相近，厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對(duì)于鋼材，較大測(cè)定厚度達(dá)2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之間。

2.磁性-在測(cè)定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時(shí)，測(cè)定值會(huì)因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測(cè)知覆蓋層厚度值。常用于測(cè)定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

對(duì)比試樣校準(zhǔn)類型

1.渦流-當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí)，由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦流所產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

2.同位素-利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理，可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。