2分鐘前 泰州EMMI顯微鏡信賴推薦 特斯特電子科技公司[蘇州特斯特31ff5f9]內(nèi)容：EMMI可廣泛應用于偵測各種組件缺陷所產(chǎn)生的漏電流，包括閘極氧化層缺陷(Gate oxide defects)、靜電放電破壞(ESD Failure)、閂鎖效應(Latch Up)、漏電(Leakage)、接面漏電(Junction Leakage) 、順向偏壓(Forward Bias)及在飽和區(qū)域操作的晶體管，可藉由EMMI定位，找熱點(Hot Spot 或找亮點)位置，進而得知缺陷原因，幫助后續(xù)進一步的失效分析。

同時利用光誘導的電阻，它的主要原理是利用激光電視，在恒定電壓之下進行掃描，通過一部分能量轉(zhuǎn)化為熱能，可以關(guān)注它所發(fā)生的實際變化。這樣在檢測的過程當中，效率就會得到大幅度的提高。因此在檢測芯片的過程當中，其實有很多比較重要的方法，客戶可以去關(guān)注emmi檢測和他的分析方式，目前國內(nèi)關(guān)于芯片的檢測機構(gòu)并不是特別的成熟。

半導體常用失效分析檢測儀器;

顯微鏡分析OM無損檢測

金相顯微鏡OM：可用來進行器件外觀及失效部位的表面形狀，尺寸，結(jié)構(gòu)，缺陷等觀察。金相顯微鏡系統(tǒng)是將傳統(tǒng)的光學顯微鏡與計算機（數(shù)碼相機）通過光電轉(zhuǎn)換有機的結(jié)合在一起，不僅可以在目鏡上作顯微觀察，還能在計算機（數(shù)碼相機）顯示屏幕上觀察實時動態(tài)圖像，電腦型金相顯微鏡并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。金相顯微鏡可供研究單位、冶金、機械制造工廠以及高等工業(yè)院校進行金屬學與熱處理、金屬物理學、煉鋼與鑄造過程等金相試驗研究之用，實現(xiàn)樣品外觀、形貌檢測 、制備樣片的金相顯微分析和各種缺陷的查找等功能。