C掃描檢測(cè)應(yīng)用范圍

超聲波C 掃描技術(shù)是將 超聲檢測(cè)與微機(jī)控制和微機(jī)進(jìn)行 數(shù)據(jù)采集、存貯、處理、圖像顯示集合在一起的技術(shù)。超聲波C 掃描系統(tǒng)使用計(jì)算機(jī)控制超聲 換能器(探頭) 位置在工件上 縱橫交替搜查,把在探傷距離特定范圍內(nèi)(指工件內(nèi)部) 的反射波強(qiáng)度作為 輝度變化并連續(xù)顯示出來(lái),可以繪制出工件內(nèi)部缺陷 橫截面圖形。這個(gè)橫截面是與超聲波聲束垂直的,即工件內(nèi)部缺陷橫截面,在計(jì)算機(jī)顯示器上的縱橫坐標(biāo),分別代表工作表面的縱橫坐標(biāo)。

超聲C掃描

超聲C掃描是一種用于材料科學(xué)領(lǐng)域的物理性能測(cè)試儀器，于2014年03月01日啟用。

超聲波C掃描是面掃描，或水平投影，是一種二維圖像，橫、縱坐標(biāo)都表示時(shí)間（或距離）。

超聲波C掃描表示被檢工件的投影面的狀況，在投影面上繪出缺陷的水平投影位置，但不能給出缺陷的埋藏深度。

如果您想了解更多的產(chǎn)品信息，請(qǐng)及時(shí)關(guān)注我們公司！！！

超聲 C 掃描的基本原理

超聲 C 掃檢測(cè)本質(zhì)上是在常規(guī)超聲 A 掃檢測(cè)基礎(chǔ)上利用電子深度門(mén)記錄反射回波信號(hào)，通過(guò)接收電路放大后在示波屏上顯示，當(dāng)探頭對(duì)工件進(jìn)行整體掃查后，即可得到工件內(nèi)部缺陷或界面的俯視圖。C 掃圖像可以直接反映工件內(nèi)部與聲束垂直方向上缺陷的二維形狀與分布，通過(guò)不同的顏色標(biāo)示缺陷的埋藏深度。

期望大家在選購(gòu)C掃描檢測(cè)時(shí)多一份細(xì)心，少一份浮躁，不要錯(cuò)過(guò)細(xì)節(jié)疑問(wèn)。想要了解更多C掃描檢測(cè)的相關(guān)資訊，歡迎撥打網(wǎng)站上的熱線電話！！！