1分鐘前 萊蕪膜厚儀EDX8000T Plus承諾守信「英飛思科學」[英飛思科學66089b4]內容：

英飛思XRF鍍層測厚儀優(yōu)勢

>微光斑X 射線聚焦光學器件

通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，實現(xiàn)高精度測量。

>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)

高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。

>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)

的點位測量功能有助于提高測量精度。

>全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量

配合用戶友好的軟件界面，可以輕松地進行日常測量。

使用注意事項編輯 語音測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。測量注意事項：⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

它以PLC和工業(yè)計算機為，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng)，達到要求的軋制厚度。主要應用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。3、紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。4、薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。5、涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.