探傷機(jī)校準(zhǔn)

與此同時(shí)，對(duì)于部分檢測(cè)儀器設(shè)備而言，需要利用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)對(duì)測(cè)量的可靠性進(jìn)行分析,根據(jù)相關(guān)文件得知，部分校準(zhǔn)現(xiàn)在無(wú)法按照SI單位進(jìn)行,對(duì)此需要制定完善的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)溯源，從根本上提高其準(zhǔn)確性以及可信度,其中可以利用有資格的供應(yīng)者,以此提高有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),或者對(duì)硬度計(jì)、定量光譜儀等儀器設(shè)備，從而證實(shí)測(cè)量的可靠性。

探傷機(jī)校準(zhǔn)

射線探傷機(jī)的主要技術(shù)指標(biāo)和檢定方法X射線探傷機(jī)是指用于工業(yè)產(chǎn)品部件無(wú)損檢測(cè)的X射線機(jī)。它是通過(guò)高速電子轟擊陽(yáng)極靶產(chǎn)生X射線,透照被檢部件,并在膠片或其它成像裝置上得到部件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖此判斷被檢驗(yàn)部件有無(wú)缺陷。X射線探傷機(jī)可分為固定動(dòng)式)、攜帶式定向和周向X射線探傷機(jī)。

現(xiàn)行退磁機(jī)的X射線探傷機(jī)檢定規(guī)程是JJG40-2001《X射線探檢定規(guī)程》,適用于額定管電壓≤400kV的X射線探傷機(jī)次和后續(xù)檢定。檢定項(xiàng)目即計(jì)量性能要求包括:空氣比釋動(dòng)能率、穿透力、重復(fù)性、輻射角、計(jì)時(shí)器誤差、透照射線空氣比釋動(dòng)能率。

探傷機(jī)校準(zhǔn)

由于超聲波經(jīng)過(guò)保護(hù)膜、耦合劑(直探頭)或有機(jī)玻璃楔塊(斜探頭)進(jìn)入待測(cè)工件，在缺點(diǎn)定位時(shí)，需將這局部聲程移去，才能得到超聲波在工件中實(shí)踐聲程。

零點(diǎn)通常是經(jīng)過(guò)已知聲程的試塊進(jìn)行調(diào)理，如CSK-IA試塊中的R100圓弧面(斜探頭)或深100mm的大平底(直探頭)。

K值校正

由于斜探頭探傷時(shí)不只要知道缺點(diǎn)的聲程，更要得出缺點(diǎn)的筆直和水平方位，因而斜探頭還要測(cè)定其K值(折射角)才能地對(duì)缺點(diǎn)進(jìn)行定位。K值通常是經(jīng)過(guò)對(duì)具有已知深度孔的試塊來(lái)調(diào)理，如用CSK-IA試塊50或1.5的孔。