探傷機校準校準與檢定的異同

校準和檢定是兩個不同的概念，但兩者之間有密切的聯系。校準一般是用比被校計量器具精度高的計量器具(稱為標準器具)與被校計量器具進行比較，以確定被校計量器具的示值誤差，有時也包括部分計量性能，但往往進行校準的計量器具只需確定示值誤差，如果校準是檢定工作中示值誤差的檢定內容，那樣準可說是檢定工作中的一部分，但校準不能視為檢定，況且校準對條件的要求亦不如檢定那么嚴格，校準工作可在生產現場進行，而檢定則須在檢定室內進行。

探傷機校準

由于超聲波經過保護膜、耦合劑(直探頭)或有機玻璃楔塊(斜探頭)進入待測工件，在缺點定位時，需將這局部聲程移去，才能得到超聲波在工件中實踐聲程。

零點通常是經過已知聲程的試塊進行調理，如CSK-IA試塊中的R100圓弧面(斜探頭)或深100mm的大平底(直探頭)。

K值校正

由于斜探頭探傷時不只要知道缺點的聲程，更要得出缺點的筆直和水平方位，因而斜探頭還要測定其K值(折射角)才能地對缺點進行定位。K值通常是經過對具有已知深度孔的試塊來調理，如用CSK-IA試塊50或1.5的孔。

探傷機校準絕緣電阻試驗

被校設備斷開總電源處于非工作狀態，設備開關置于接通位置，用兆歐表測量電源端與保護接地端之間的絕緣電阻，其結果應滿足相應條款的要求。

絕緣強度試驗

被校設備斷開總電源處于非工作狀態，設備開關置于接通位置，用耐電壓測試儀在電源端與保護接地端之間施加1.5kV電壓，保持時間1min，應無飛弧和擊穿現象。

探傷機校準校準點的選擇

在使用數字顯示的電流表情況下，電流校準點可在探傷機的周向磁化電流和縱向磁化電流(或安匝數)滿量程的30%到間均勻選擇不少于三點。在使用模擬顯示的電流表情況下,電流校準點可選擇探傷機的周向磁化電流和縱向磁化電流(或安匝數)滿量程的30%到潤帶數字的刻度均勻選擇不少于三點。