對比試樣校準示值顯現不穩定？

致使涂層測厚儀示值顯現不穩定的要素主要是來自工件本身的資料和構造的特別性，比方工件本身是不是為導磁性資料，假如是導磁性資料咱們就要挑選磁性涂層測厚儀，假如工件為導電體，咱們就得挑選渦流涂層測厚儀。再者，被測件的外表粗糙度和附著物也是致使儀器示值顯現不穩定的重要要素，測厚儀的探頭對那些阻礙與覆蓋層外表緊密觸摸的附著物質極其靈敏。有必要確保探頭與覆蓋層外表直觸摸摸。因而，掃除此種毛病的關鍵即是：測量前鏟除被測件觸摸面的塵埃、細屑、油脂及腐蝕產物等附著物，但不要除去任何覆蓋層物質。再有即是在進行體系調零時，所運用的基體外表也有必要是清洗、潤滑的。如感受測量成果差錯比較大時，請先用儀器裝備的塑料校準片做一輪測驗，如違背答應差錯較遠則有也許是儀器本身出了問題，需返廠家檢修。在體系校按時沒有挑選適宜的基體。基體平面為7mm，小厚度為 0.2mm，低于此臨界條件測量是不可靠的。

對比試樣校準測量方法

覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中有五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。 X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有射線源，使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

對比試樣校準探頭選擇

超聲波測厚儀探頭根據性能和直徑分類主要有7MHz/φ6mm探頭、5MHz/φ10mm探頭、2.5MHz/φ14mm探頭、5MHz/φ8mm使用某一探頭前應先在儀器上選擇對應的探頭按“ENTER”或“確認”鍵保存，下次開機時，探頭為本次選擇的探頭。為保證儀器精度和穩定性，建議不要互換探頭。儀器使用后，應擦去探頭及儀器上的耦合劑和污垢。