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公司基本資料信息
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>鍍鉻,例如帶有裝飾性鍍鉻飾面的塑料制品
>鋼上鋅等防腐涂層
>電路板和柔性PCB上的涂層
>插頭和電觸點的接觸面
>電鍍液分析
>鍍層,如金基上的銠材料分析
>電鍍液分析
>分析電子和半導體行業的功能涂層
>分析硬質材料涂層,例如 CrN、TiN 或 TiCN
>可拓展增加RoHS有害元素分析功能
英飛思XRF鍍層測厚儀優勢
>微光斑X 射線聚焦光學器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區域,實現高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統
高計數率硅漂移檢測器可實現高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統
的點位測量功能有助于提高測量精度。
>全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件,可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量
配合用戶友好的軟件界面,可以輕松地進行日常測量。