|
公司基本資料信息
|
原子力顯微鏡是一種掃描探針顯微鏡(SPM),其中探針跟隨材料表面,以檢測探針和材料之間的原子力,從而生成材料表面的圖像。與光學顯微鏡相比,掃描探針顯微鏡具有極高的空間分辨率,能夠在原子水平上檢查表面輪廓。此外,原子力顯微鏡是一種掃描探針顯微鏡,能夠測量絕緣材料。
通過將SLD發出的光發射到帶有探針的懸臂梁的后側,并使用位置傳感器檢查反射的激光,可以更好的地檢查探針的移動,從而以納米級的精度觀察物質表面。
光學相干層析成像系統結合了低相干干涉和共焦顯微測量的特點。系統選用的光源為寬帶光源,常用的是超輻射發光二極管(SLD)。光源發出的光經2×2耦合器分別通過樣品臂和參考臂照射到樣品和參考鏡,兩個光路中的反射光在耦合器中匯合,而兩臂光程差只有在一個相干長度內才能發生干涉信號。同時由于系統的樣品臂是一個共焦顯微鏡系統,探測光束焦點處返回的光束具有的信號,可以排除焦點外的樣品散射光的影響,這是OCT可以成像的原因之一。把干涉信號輸出到探測器,信號的強度對應樣品的反射強度,經過解調電路的處理,后由采集卡采集到計算機進行灰度成像。