3分鐘前 泰州高速燒錄器廠家貨真價(jià)實(shí)「在線咨詢」[蘇州特斯特31ff5f9]內(nèi)容：超聲波掃描顯微鏡特點(diǎn)：非破壞性、對(duì)樣品無損壞。分辨率高，可確定缺陷在樣品內(nèi)部的準(zhǔn)確位置。工作方式按接收信息模式可分為反射模式與透射模式。按掃描方式分可分為 C掃，B掃，X掃，Z掃，分焦距掃描，分波長(zhǎng)掃描等多種方式。二次打標(biāo)假l冒識(shí)別塑封器件二次打標(biāo)可用于塑封元器件表面標(biāo)識(shí)的假l冒識(shí)別，通過對(duì)期間標(biāo)識(shí)層的多層掃描可發(fā)現(xiàn)二次打標(biāo)痕跡。

EMMI偵測(cè)的到亮點(diǎn)、熱點(diǎn)(Hot Spot)情況；原來就會(huì)有的亮點(diǎn)、熱點(diǎn)(Hot Spot)飽和區(qū)操作中的BJT或MOS(Saturated Or Active Bipolar Transistors /Saturated MOS)動(dòng)態(tài)式CMOS (Dynamic CMOS)二極管順向與逆向偏壓崩潰 (Forward Biased Diodes /Reverse Biased Diodes Breakdown)偵測(cè)不到亮點(diǎn)情況不會(huì)出現(xiàn)亮點(diǎn)的故障奧姆或金屬的短路(Ohmic Short / metal Short)亮點(diǎn)被遮蔽之情況埋入式接面的漏電區(qū)(Buried Juncti)金屬線底下的漏電區(qū)(Leakage Sites Under metal)

（超聲波掃描顯微鏡)無損檢測(cè)

超聲掃描顯微鏡是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測(cè)設(shè)備。在工作中采用反射或者透射等掃描方式來檢查材料內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu)，雜質(zhì)顆粒、夾雜物、沉淀物、內(nèi)部裂紋、分層缺陷、空洞、氣泡、空隙等。< br />< br />著作權(quán)歸作者所有。

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