4分鐘前 EMMI顯微鏡詢問報(bào)價(jià)「多圖」[蘇州特斯特31ff5f9]內(nèi)容：

自動(dòng)聚焦顯微鏡的研究在高倍率顯微圖像的處理過程中,自動(dòng)聚焦具有重要意義。本文對(duì)動(dòng)態(tài)自動(dòng)聚焦顯微鏡的清晰度自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)和高精度位置隨動(dòng)系統(tǒng)進(jìn)行了分析,提出了理想的清晰度檢測(cè)方法評(píng)價(jià)參數(shù)的特征,敘述了微分峰值檢測(cè)法的原理、實(shí)驗(yàn)結(jié)果、 控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和整機(jī)性能評(píng)價(jià)。如有您需要訂購(gòu)，歡迎來電咨詢我們公司，為您提供詳細(xì)介紹！

超聲波顯微鏡是通過像素pixel進(jìn)行體現(xiàn)，然而光學(xué)鏡卻以CCD攝像頭為主，也正因?yàn)榻Y(jié)構(gòu)上的差異，所以超聲波掃描顯微鏡的價(jià)格是普通工顯鏡的數(shù)倍，不僅如此，它們的應(yīng)用領(lǐng)域也有著極大的差距，超聲波掃描顯微鏡幾乎囊括了光學(xué)顯微鏡的所有領(lǐng)域，而且它尤其在材料半導(dǎo)體行業(yè)應(yīng)用更廣。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測(cè)試、檢測(cè)儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測(cè)試與檢測(cè)。

對(duì)于故障分析而言，微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是一種相當(dāng)有用且效率極高的分析工具。主要偵測(cè)IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中，EHP(Electron Hole Pairs) Recombination會(huì)放出光子(Photon)。舉例說明：在P-N 結(jié)加偏壓，此時(shí)N阱的電子很容易擴(kuò)散到P阱，而P的空穴也容易擴(kuò)散至N然後與P端的空穴（或N端的電子）做 EHP Recombination。

芯片失效分析步驟:

1、非破壞性分析：主要是超聲波掃描顯微鏡（C-SAM）--看有沒delamination，xray--看內(nèi)部結(jié)構(gòu)，等等；

2、電測(cè)：主要工具，萬用表，示波器， tek370a

3、破壞性分析：機(jī)械decap，化學(xué) decap芯片開封機(jī)

4、半導(dǎo)體器件芯片失效分析 芯片內(nèi)部分析，孔洞氣泡失效分析。

蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測(cè)試、檢測(cè)儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測(cè)試與檢測(cè)。